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[设备]双频激光干涉测量系统

作者:编辑:发布:2016-04-13点击量:

中文名称:

双频激光干涉测量系统

英文名称

Dual Frequency Laser Interference Measurement System

仪器编号:

01310127

仪器型号:

STIF47A1

生产厂家:

上海微电子装备有限公司

放置位置:

微纳加工与测量实验室

  功能介绍    

纳米级运动测量,测量工件台运动过程中的水平三自由度位姿,并实时反馈。

  主要技术参数 

·量程:1mm~10mm

·分辨率:0.15nm

·功能:3轴同步测量

·测量精度:优于10nm

·双轴干涉仪: 左入光 体积<115mm*90mm*42mm

·补偿方式: 波长跟踪器补偿

·数据输出:Ethernet 接口,提供API 程序接口,4 通道位移数据处理,位移数字输出

  应用范围    

广泛应用于机械、物理学、材料学等领域。

 

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